Неразрушающий анализ толщины многослойных покрытий и определение химического состава без предварительной подготовки поверхности. Для анализа применяется X-STRATA 920 рентгено-флуоресцентный анализатор покрытий.
БЕСПЛАТНАЯ КОНСУЛЬТАЦИЯ
Применение
Производство электроники и электронных компонентов
- Определение химического состава и толщины покрытий - Измерение толщины слоя Au и Pd на контактах печатных плат - Измерение толщины слоя химического никеля на жестких дисках - Анализ очень тонких слоев покрытия (Au/Pd ≤ 0,1 мкм)
Контроль толщины защитных покрытий в различных отраслях промышленности
- Послойное измерение толщины по 5 слоям (4 слоя покрытия + основание) - Одновременно анализ химического состава по 25 элементам - Анализ гальванических растворов
Анализ химического состава металлов и сплавов
- Быстрый, неразрушающий анализ химического состава изделий из драгоценных металлов (Au, Ag, Pt, Pd и т.д.) - Анализ химического состава цветных сплавов (Cu, Zn и т.д.)
Одновременное определение композиции до 25 химических элементов. Измерение в соответствии со стандартами ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 и IEC 62321
Оставьте заявку прямо сейчас и наш специалист проведет БЕСПЛАТНУЮ консультацию по анализу толщины покрытий