Анализ толщины покрытий
Неразрушающий анализ толщины многослойных покрытий и определение химического состава без предварительной подготовки поверхности. Для анализа применяется X-STRATA 920 рентгено-флуоресцентный анализатор покрытий.
БЕСПЛАТНАЯ КОНСУЛЬТАЦИЯ

Применение

Производство электроники и электронных компонентов
- Определение химического состава и толщины
покрытий
- Измерение толщины слоя Au и Pd на контактах печатных плат
- Измерение толщины слоя химического никеля на жестких дисках
- Анализ очень тонких слоев покрытия (Au/Pd ≤
0,1 мкм)
Контроль толщины защитных покрытий в различных отраслях промышленности
- Послойное измерение толщины по 5
слоям (4 слоя покрытия + основание)
- Одновременно анализ химического
состава по 25 элементам
- Анализ гальванических растворов
Анализ химического состава металлов и сплавов
- Быстрый, неразрушающий анализ химического состава изделий из драгоценных
металлов (Au, Ag, Pt, Pd и т.д.)
- Анализ химического состава цветных сплавов (Cu, Zn и т.д.)
Одновременное определение композиции до 25 химических
элементов. Измерение в соответствии со стандартами ISO
3497, ASTM B568, DIN 50987 и IEC 62321

Оставьте заявку прямо сейчас и наш специалист проведет БЕСПЛАТНУЮ консультацию
по анализу толщины покрытий

link rel="canonical" href="x-met.ru/xstrata920"